【儀器網(wǎng) 行業(yè)應(yīng)用】碳化硅中微量元素分析主要采用原子吸收光譜法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-OES)法和電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)法。本文根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3045-2017中電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定的方法，經(jīng)過(guò)檢測(cè)條件的優(yōu)化，建立了電感耦合等離子體光譜(ICP-OES)法測(cè)定碳化硅粉末中鐵、鎂、鈦、鋁、鈣、鈉含量的方法，可供相關(guān)人員參考。

　　PART ONE實(shí)驗(yàn)部分

　　儀器與試劑

　　ICP-7700型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀;

　　氫氟酸;

　　鹽酸;

　　碳化硅樣品。

　　實(shí)驗(yàn)條件

　　樣品處理

　　稱取約1.0g樣品(精確至0.0001g)，放入鉑皿中。用少量水濕潤(rùn)，加氫氟酸10mL，于電爐上蒸發(fā)至干，再加氫氟酸5mL繼續(xù)蒸發(fā)至干，保持30min，取下稍冷，加(1+1)鹽酸15mL，于電爐上加熱15min，稍冷，用中速濾紙過(guò)濾用溫?zé)岬?5+95)的鹽酸洗滌鉑皿及殘留物8次，再用超純水洗滌濾紙及殘留物8次。濾液及洗液收集于100mL容量瓶中，冷卻后稀釋至刻度，搖勻，待測(cè)。

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